afiş

< Nebula Cep Telefonu ve Dijital Ürün Lityum Pil Paketi Test Sistemi >

Nebula Cep Telefonu ve Dijital Ürün Lityum Pil Paketi Test Sistemi

Bu sistem, öncelikle koruma IC testinin temel özellikleri ve paket entegre bir test sisteminin (destekleyici) geliştirilmesi için cep telefonları ve dijital ürünler lityum pillerin üretim hattındaki tamamlanmış veya yarı tamamlanmış ürünlerin temel özelliklerini değerlendirmek için uygundur. I2C, SMBus, HDQ iletişim protokolleri).

ÖZELLİKLERİ

Açıklama

Cep telefonu ve dijital ürün Li-ion pil paketi üretim hatlarında ve koruma IC'lerinde (I2C, SMBus, HDQ iletişim protokollerini destekleyen) nihai ürünlerin/yarı mamullerin temel ve koruma özellikleri testlerine uygulanan Pack kapsamlı test sistemidir. ).

Test sistemi temel olarak temel performans testi ve koruma performans testinden oluşur.Temel performans testi, açık devre gerilim testi, yük-gerilim testi, dinamik yük testi, pil dahili direnç testi, termal direnç testi, ID Direnç testi, normal şarj gerilimi testi, normal deşarj gerilimi testi, kapasitans testi, kaçak akım testini içerir;koruma performansı testi, şarj aşırı akım koruma testini içerir: şarj aşırı akım koruma fonksiyonu, gecikme süresi koruması ve kurtarma fonksiyon testleri;deşarj aşırı akım koruma testi: deşarj aşırı akım koruma fonksiyonu, gecikme süresi koruması ve kurtarma fonksiyon testleri;kısa devre koruma testi.

Test sistemi aşağıdaki özelliklere sahiptir: Bağımsız tek kanallı modüler tasarım ve veri raporu işlevi, yalnızca her bir PACK'in test hızını artırmakla kalmaz, aynı zamanda bakımı da kolaydır;Bir PACK'in koruma durumlarını test ederken, test cihazının karşılık gelen sistem durumuna geçmesi gerekir.Test cihazı, röle kullanmak yerine, test cihazının güvenilirliğini artırmak için yüksek güç tüketen MOS temassız anahtarı kullanır.Ve test verileri, kontrolü kolay, güvenliği yüksek ve kaybetmesi kolay olmayan sunucu tarafına yüklenebilir.Test sistemi, yalnızca "Yerel veritabanı" depolama test sisteminin test sonuçlarını değil, aynı zamanda "sunucu uzak depolama" modunu da sağlar.Veritabanındaki tüm test sonuçları dışa aktarılabilir, bu da kullanımı kolaydır.Test sonuçlarının "veri istatistiksel işlevi", "her test projesinin uygulanmayan oranını" ve her PCM vakasının "brüt testini" analiz etmek için kullanılabilir.

Özellikler

Modüler tasarım: Kolay bakım için bağımsız tek kanallı modüler tasarım

Yüksek doğruluk: voltaj çıkışının en yüksek doğruluğu±(0.01RD+0.01%FS)

Hızlı test: 1,5 saniyelik en yüksek test hızıyla üretim döngüleri önemli ölçüde hızlanır

Yüksek güvenilirlik: test cihazının güvenilirliğini artırmak için yüksek güç tüketen MOS temassız anahtar

Kompakt boyut: Yeterince küçük ve taşıması kolay

——

ÖZELLİKLER

modeli

BAT-NEPDQ-01B-V016

Parametre

Menzil

Kesinlik

Şarj voltajı çıkışı

0,1~5V

±(%0,01RD +%0,01FS)

5~10V

±(%0,01RD+%0,02FS )

Şarj voltajı ölçümü

0,1~5V

±(0,01%6R.D. +%0,01FS)

5~10V

±(%0,01RD +%0,01FS)

Şarj akımı çıkışı

0,1~2A

±(0,01%RD+0,5mA)

2-20A

±(%0,01RD+%0,02FS)

Şarj akımı ölçümü

0,1~2A

±(%0,01 RD+0,5mA)

2- 20A

±(%0,02 RD+0,5mA)

PAKET voltaj ölçümü

0,1~10V

±(%0,02 RD +0,5mV)

Deşarj voltajı çıkışı

0,1~5V

±(%0,01RD +%0,01FS)

0,1~10V

±(%0,01RD+%0,02FS )

deşarj voltajı ölçümü

0,1~5V

±(%0,01RD +%0,01FS)

0.1-10V

±(%0,01RD +%0,01FS)

Deşarj akımı çıkışı

0,1~2A

±(%0,01 RD+0,5mA)

2-30A

±(%0,02 RD+%0,02FS)

Deşarj akımı ölçümü

0,1~-2A

±(%0,01 RD+0,5mA)

2-30A

±(%0,02 RD+0,5mA)

kaçak akım ölçümü

0.1-20uA

±(%0,01 RD+0,1uA)

20-1000uA

±(%0,01RD +%0,05FS)

iletişim bilgileri

Mesajınızı buraya yazın ve bize gönderin.